Tasapinnaline joonvõre 400l/mm 430nm-2000nm

• Laiendatud lairibaühendus: optimeeritud 430 nm-2000 nm vahemiku jaoks, hõlmates kogu nähtava spektri ja ulatudes hästi lähiinfrapunani. See üksainus rest võimaldab mitmekülgset instrumendi konstruktsiooni, mis suudab rahuldada mitme rakenduse vajadused.
• Optimeeritud 400 l/mm soone tihedus: 400 l/mm soone tihedus tagab ideaalse tasakaalu spektraalse eraldusvõime ja valguse läbilaskevõime vahel laias lainepikkuste vahemikus. See madalam tihedus tagab kõrge efektiivsuse NIR-piirkonnas, kus pikemad lainepikkused nõuavad optimaalse jõudluse tagamiseks laiemat soonevahet.
• Täpne reguleerimine vähese hajuva valguse jaoks: täiustatud joondamistehnikad loovad sujuvad ja täpsed sooneprofiilid, mis minimeerivad hajumist ja tagavad, et tasapinnalise võre difraktsioonitõhusus muutub puhtaks, kõrge signaali{0}}/-müra suhte spektraalandmeteks kogu vahemikus.
• Lairibakatte valikud: saadaval kaitstud alumiiniumist või täiustatud lairibakatetega, mis on spetsiaalselt loodud säilitama kõrget peegeldust nähtavast läbi NIR-i, maksimeerides süsteemi läbilaskevõimet.
• Suurepärane lainefrondi kvaliteet: toodetud kõrgel{0}}kvaliteetsetel aluspindadel, millel on erakordne tasapinnalisus, mis tagab minimaalse lainefrondi moonutuse-, mis on ülioluline fookuse ja eraldusvõime säilitamiseks laias spektrivahemikus töötavates optilistes süsteemides.

See mitmekülgne tasapinnaline peegeldusvõre on ideaalne komponent instrumentidele, mis nõuavad laia spektri katvust nähtavast lähiinfrapunani:

UV-Vis-NIR-spektrofotomeetrid: toimib põhilise hajutava elemendina mitmeotstarbelistes instrumentides, mis analüüsivad proove nähtavas ja lähi{3}}infrapuna piirkonnas.

• NIR-protsesside analüüs: oluline tööstuslike protsesside juhtimise rakenduste jaoks, sealhulgas põllumajandustoodete sorteerimine, farmatseutiliste koostisosade kontrollimine ja polümeeride analüüs, kui NIR-piirkonnas ilmuvad spektraalsignatuurid.
• Tasapinnalise resti monokromaator: sobib suurepäraselt häälestatavates valgusallikates kasutatavatele monokromaatoritele, võimaldades ühe restiga katta nii nähtavaid kui ka NIR-lainepikkusi ilma komponente muutmata.
• Materjali iseloomustus: kasutatakse instrumentides, mis mõõdavad materjalide peegeldust, läbilaskvust ja neeldumist, mille spektriomadused ulatuvad nähtavast kuni NIR-i vahemikku.
• Optiliste komponentide testimine: sobib testimissüsteemide jaoks, mis hindavad filtrite, kattekihtide ja muude optiliste komponentide jõudlust laias lainepikkuse vahemikes.